Circuit de mesure des caracteristiques dynamiques d'un boitier pour circuit integre rapide, et procede de mesure de ces caracteristiques dynamiques

Abstract

<P>L'INVENTION SE RAPPORTE AU DOMAINE DE LA MESURE DES CARACTERISTIQUES DYNAMIQUES DES BOITIERS D'ENCAPSULATION POUR CIRCUITS INTEGRES RAPIDES 1 GHZ.</P><P>LE CIRCUIT DE MESURE COMPREND AU MOINS DEUX AMPLIFICATEURS 4, 5 INTEGRES SUR UN SUBSTRAT SEMICONDUCTEUR 3. CES AMPLIFICATEURS ONT MEMES IMPEDANCES D'ENTREE ET DE SORTIE QUE CELLES DU CIRCUIT RAPIDE A ENCAPSULER DANS LE BOITIER. L'IMPLANTATION DES AMPLIFICATEURS 4, 5 EST TRES LACHE POUR QU'IL N'Y AIT PAS DE COUPLAGE INTERNE, ET SELON LES MESURES A EFFECTUER, LES DEUX AMPLIFICATEURS SONT IMPLANTES EN PARALLELE 4, 5 OU EN ANTI-PARALLELE 5, 6. POUR MESURER LES CARACTERISTIQUES DYNAMIQUES D'UN BOITIER, UN CIRCUIT DE MESURE EST MONTE DANS UN BOITIER, ET UN SIGNAL V EST ADRESSE SUR UNE CONNEXION D'ENTREE 11 DU BOITIER. DE LA MESURE DU SIGNAL V RECUEILLI SUR UNE CONNEXION DE SORTIE 15, ON DEDUIT LES COEFFICIENTS DE TRANSMISSION T ET DE COUPLAGE C.</P><P>APPLICATION AUX BOITIERS DE CIRCUITS RAPIDES.</P>

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      Publication numberPublication dateAssigneeTitle
      FR-2529385-A1December 30, 1983Thomson CsfMicroboitier d'encapsulation de circuits integres logiques fonctionnant en tres haute frequence
      US-4535307-AAugust 13, 1985Raytheon CompanyMicrowave circuit device package

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